产品概述：
晓INSIGHT镀层分析仪是一款上照式镀层分析仪，具有高灵敏度、非破坏性、操作简单、测试精度高、外观紧凑、节约空间等 特点，不仅可用于对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品进行元素分析，还能用于镀层和镀层系统的厚度测量，实现快 速测量和精准分析，广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和生产工艺控制环节，以帮客户降低物料成本，满足对应的 工业标准。
产品原理：
用X射线轰击样品，样品受激发后产生X射线荧光。X射线通常把元素原子K层和L层的内层电子打岀原子，产生的空穴被高能量的 外层电子填补。补充到低能量轨道上的高能量电子把多余的能量以X射线荧光辐射岀来。这些辐射岀来的谱线中含有各种元素的 特征。像指纹一样，并且独立于原子的化学价态。辐射的强度与样品中该元素的浓度成正比。
仪器工作原理
晓 I N S I G H T 镀 层 分 析 仪 使 用 微 聚 焦 X 射 线 管 将 X 射 线 源 的 大 部 分 射 线 收 集 并 汇 聚 成 微 束 斑，照 射 在 样 品 位 置，从 而 获 得 良好的空间分辨率及很强的荧光信号，通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光 信 号，得 出 样 品 的 成 分 信 息 。它 可 实 现 更 复 杂 应 用 的 快 速 测 量 和 精 准 分 析，是 对 不 均 匀 或 形 状 不 规 则 的 未 知 样 品 以 及 微 观物体进行元素分析的理想方法。
